晓INSIGHT系列 镀层分析仪
镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺，其厚度是产品质量的最重要保证因素，因此，对镀层厚度的质量控制/保证至关重要，X射线荧光（XRF）因为其非破坏性、测量快速、易于使用，已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。
晓INSIGHT专为微光斑和超薄镀层分析而设计，可提供极高的计数率，用于测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层，并提供高精度的检测结果，同时保持较短的测量时间，这借助于其内部采用高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器。帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业轻松应对超薄镀层带来的检测挑战，有效提高生产力，确保符合规范，以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
规格参数
| 特点 |
自上而下的测量结构，XYZ测量平台，Muti-FP多层算法 |
| 元素范围 | Na(钠)—Fm(镄) |
| 分析层数 | 5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 |
| X射线管 | 微聚焦X射线管、毛细管X射线管（可选配） |
| 探测器 | 高灵敏度大面积SDD探测器、SDD 50mm2超大面积探测器（可选配） |
| 准直器 | 多准可选,多准可组合 |
| 相机 |
高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素 |
| 放大倍数 |
40x-160x |
| 手动样品XY平台 | 移动范围：100 x 150 mm |
| 可编程XY平台 | (可选配) |
| Z轴移动范围 | 150 mm |
| 样品仓尺寸 | 520×480×170mm（L×W×H） |
| 外形尺寸 | 624×702×730mm（L×W×H） |
| 重量 | 120KG |
| 电源 | AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) |
| 额定功率 | 150W |
